KURAGE online | 印刷 の情報 > EUV用フォトマスク製造プロセス開発、DNPが加速:2nm世代のロジック半導体向け 投稿日:2024年3月28日 大日本印刷(DNP)は、EUV(極端紫外線)リソグラフィに対応する、2nm世代のロジック半導体向けフォトマスク製造プロセスの開発を本格的に始めた。2025年度関連キーワードはありません 続きを確認する